Batenburg, S. J.; Friedrich, O.; Moriya, K.; Voigt, S.; Cournede, C.; Moebius, I.; Blum, P.; Bornemann, A.; Fiebig, J.; Hasegawa, T.; Hull, P. M.; Norris, R. D.; Rohl, U.; Sexton, P. F.; Westerhold, T.; Wilson, P. A.; Iodp Expedition 342 Scientists
Bertler, N. A. N.; Conway, H.; Dahl-Jensen, D.; Emanuelsson, D. B.; Winstrup, M.; Vallelonga, P. T.; Lee, J. E.; Brook, E. J.; Severinghaus, J. P.; Fudge, T. J.; Keller, E. D.; Baisden, W. T.; Hindmarsh, R. C. A.; Neff, P. D.; Blunier, T.; Edwards, R.; Mayewski, P. A.; Kipfstuhl, S.; Buizert, C.; Canessa, S.; Dadic, R.; Kjaer, H. A.; Kurbatov, A.; Zhang, D. Q.; Waddington, E. D.; Baccolo, G.; Beers, T.; Brightley, H. J.; Carter, L.; Clemens-Sewall, D.; Ciobanu, V. G.; Delmonte, B.; Eling, L.; Ellis, A.; Ganesh, S.; Golledge, N. R.; Haines, S.; Handley, M.; Hawley, R. L.; Hogan, C. M.; Johnson, K. M.; Korotkikh, E.; Lowry, D. P.; Mandeno, D.; McKay, R. M.; Menking, J. A.; Naish, T. R.; Noerling, C.; Ollive, A.; Orsi, A.; Proemse, B. C.; Pyne, A. R.; Pyne, R. L.; Renwick, J.; Scherer, R. P.; Semper, S.; Simonsen, M.; Sneed, S. B.; Steig, E. J.; Tuohy, A.; Venugopal, A. U.; Valero-Delgado, F.; Venkatesh, J.; Wang, F. T.; Wang, S. M.; Winski, D. A.; Winton, V. H. L.; Whiteford, A.; Xiao, C. D.; Yang, J.; Zhang, X.
